南昌大学陈义旺&谈利承SA:刚性26.59%+柔性25.88%!阳离子合金化+2D界面工程实现薄膜面外应变均匀化

南昌大学陈义旺&谈利承团队在《Science Advances》上发表了“Homogenizing out-of-plane strain distribution for high-performance flexible perovskite photovoltaics”,通过A位阳离子合金化+2D钙钛矿界面层的双重策略,成功实现了钙钛矿薄膜中面外应变的均匀化:- 小面积:刚性器件效率达26.59%,柔性器件效率达25.88%(认证25.55%),并在11000次弯折后仍保持90%以上的初始效率。
- 大面积:25平方厘米面积上达到21.77%,100平方厘米面积上达到19.23%。未封装的柔性器件在经过2000小时运行跟踪测试(ISOS-L-1协议)后,仍能保持初始效率的97.8%。
https://www.science.org/doi/10.1126/sciadv.aec3238在钙钛矿(如FAPbI₃)中,A位阳离子(如FA⁺、MA⁺)的大小、形状不尽相同。当它们混合掺杂时,虽然能提高相稳定性,但也会引起晶格畸变和微观应变。这种不均匀的应变,尤其是在垂直于衬底方向(即“面外”方向)上的分布,会在弯曲过程中集中应力,诱发缺陷、裂纹,最终导致器件失效。研究团队系统比较了不同A位阳离子对晶格应变的影响。结果发现:MDA(甲基二铵)掺杂能显著降低薄膜中的缺陷密度和微观应变。通过高分辨透射电镜(HR-TEM) 和原子力显微镜(PF-QNM) 的力学成像,可以看到MDA掺杂后的薄膜杨氏模量分布更均匀,晶格畸变更小;此外。MDA掺杂后陷阱态密度降低、缺陷形成能提高。即便掺杂优化,薄膜表面仍可能残留未反应的PbI₂,带来残余拉伸应力。为此,研究团队引入了一种含氧的二铵盐(EDOEA)—能与PbI₂原位反应,生成一层垂直取向的2D钙钛矿。- 2D钙钛矿覆盖在3D钙钛矿表面,显著减少了PbI₂残留;
- 力学成像表明,2D层的杨氏模量更低(1.34 GPa vs. 混合3D的2.34 GPa),说明它能像“软垫”一样缓冲应力;
- GIXRD分析进一步证实,2D层将表面的残余拉伸应力转变为均匀的压应力,有利于抑制裂纹扩展。
刚性器件:PCE = 26.59%,柔性器件:PCE = 25.88%(认证25.55%)。大面积柔性组件:25 cm²:21.77%;100 cm²:19.23%。连续MPP追踪(ISOS-L-1):2000小时后,未封装器件仍保持97.8%初始效率;湿热老化(85°C/85% RH):1000小时后,效率保持89.9%;热循环(-40°C ↔ 85°C):500次循环后,效率保持92.1%;昼夜循环测试:500小时(约21个循环)后,效率保持97.2%。5000次弯折:SEM显示,混合3D器件已出现明显裂纹和分层,而2D/混合3D器件结构完整;11000次弯折:2D/混合3D器件仍保持90%以上的初始效率,而对照组仅剩12.7%。有限元仿真进一步揭示,2D界面层将界面平均应力从100.24 MPa(对照组)降至15.83 MPa,并且分布更均匀,从而有效延缓了裂纹萌生与扩展。Ace(98%)、GA(98%)、MDA(98%)、N,N-二甲基甲酰胺(DMF,99.8%)、二甲基亚砜(DMSO,99.9%)、乙腈(99.8%)、氯苯(CB,99.8%)、异丙醇(IPA,99.8%)和4-叔丁基吡啶(tBP,98%)购自Sigma-Aldrich。二氧化锡胶体溶液(SnO₂,15%水溶液)和双(三氟甲烷磺酰)亚胺锂(Li-TFSI,>98%)购自Alfa Aesar。甲脒氢碘酸盐(FAI,99.8%)、甲胺氢碘酸盐(MAI,99.5%)、甲胺盐酸盐(MACl,99.5%)、辛二胺碘化物、EDOEA和BDA购自西安Yuri太阳能有限公司。PbI₂(99.9985%)、碘化铯(99.99%)和2,2',7,7'-四[N,N-二(4-甲氧基苯基)氨基]-9,9'-螺二芴(spiro-OMeTAD,99%)购自Advanced Election Technology Co. Ltd.。ITO(透光率>95%)基底购自华南科技股份有限公司。银(Ag,99.995%)购自中诺先进材料(北京)科技有限公司。除非特别说明,所有化学品均按原样使用,未经进一步纯化。基底处理:玻璃/ITO和聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)/ITO基底(Peccell,日本)依次在丙酮、去离子水和异丙醇中超声清洗各20分钟,然后用氮气吹干,并进行10分钟空气等离子体处理。SnO₂沉积:将纳米颗粒溶液(15% SnO₂水溶液,用去离子水按1:3稀释)以3000 rpm旋涂到ITO基底上30秒,然后在150°C下退火30分钟。柔性基底通过玻璃/聚二甲基硅氧烷平台支撑以确保均匀沉积。PEN/ITO基底在120°C下退火30分钟。所有基底在转移到氮气手套箱进一步处理前,均经过10分钟的紫外臭氧处理。钙钛矿薄膜:将1.5 M PbI₂前驱体溶液(溶于DMF和DMSO,体积比9:1)旋涂到SnO₂包覆的基底上,转速1500 rpm,时间30秒,然后在70°C下退火1分钟。对于掺杂样品,将Ace、GA或MDA阳离子(相对于PbI₂的摩尔比为1%、3%、5%或10%)加入到前驱体溶液中。将有机盐(FAI/MAI/MACl,比例90 mg:6.9 mg:9 mg,溶于1 ml IPA)旋涂到PbI₂薄膜上(2000 rpm,30秒),然后在环境空气(相对湿度30-40%)中150°C退火15分钟。对于柔性器件,钙钛矿层在100°C退火1分钟,然后在120°C退火15分钟。表面钝化通过滴涂EDOEA溶液(5 mg/ml in IPA)、以5000 rpm旋涂30秒并在100°C退火5分钟来实现。空穴传输层:冷却后,通过旋涂沉积空穴传输层spiro-OMeTAD(4000 rpm,30秒)。spiro-OMeTAD溶液的配制:将72.3 mg spiro-OMeTAD溶于1 ml氯苯,加入28.8 μl tBP和17.5 μl Li-TFSI乙腈溶液(520 mg/ml)以及低共熔溶剂。电极制备:在7×10⁻⁴ Pa真空压力下通过热蒸发蒸镀100 nm厚的银电极。所有测量均在室温、干燥柜中进行,以确保器件稳定性。首先,使用激光机对PEN基底上的ITO进行刻蚀,形成P1线。基底依次用洗涤剂、去离子水和乙醇超声清洗各15分钟。SnO₂层和钙钛矿层通过弯月面刮涂法沉积。沉积Spiro-OMeTAD层后,对样品进行再刻蚀形成P2线,然后刻蚀Ag形成P3线,从而构建串联连接的组件。
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