-[超表面最新研究-第576期]-
南昌大学于天宝团队在Optica发表超表面衍射光学网络集成光谱偏振计研究
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栏目介绍
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一
论文基本信息
标题:
Integrated spectropolarimeter by metasurface-based diffractive optical networks
作者:
Jumin Qiu(南昌大学物理与材料科学学院);
Tingting Liu(南昌大学信息工程学院);
Chenxuan Xiang(南昌大学信息工程学院);
通讯作者: Tianbao Yu(南昌大学物理与材料科学学院);
通讯作者: Qiegen Liu(南昌大学信息工程学院);
通讯作者: Shuyuan Xiao(南昌大学信息工程学院);
发表时间:
2026年04月09日(其中2025年11月03日投稿,2026年03月23日返修,2026年03月24日接收)
发表期刊:
Optica(JCR-Q1,IF=8.5)
二
论文重要图文
摘要:
传统光谱仪和偏振仪通常依赖体积较大的离散光学元件,往往需要分步或顺序测量才能分别获取光谱与偏振信息,这不仅限制了系统的小型化集成,也不利于动态场景下对多维光学属性的快速、同步感知;尽管超表面在微型光谱和偏振测量方面已展现出显著潜力,但现有器件大多仍偏向单一功能,要将光谱与偏振两种测量能力同时集成到一个紧凑平台中,仍面临编码方式复杂、重建流程繁琐以及工程实现困难等问题。针对这一研究空缺,南昌大学团队提出了基于超表面衍射光学网络的集成光谱偏振计,通过级联单层或双层超表面构成光学编码器,利用其波长和偏振相关的相位调制,把入射光的光谱组成与偏振状态共同编码为空间分辨的强度分布,再由协同设计的卷积神经网络对单次曝光图样进行解码,从而同步重建光谱组成和完整Stokes参数;进一步地,团队还将该衍射光学网络直接集成到商业CMOS图像传感器上,构建出芯片级多维光学传感原型。这个过程可以类比为先让超表面把“颜色信息”和“偏振信息”混合写进同一张空间纹理图里,再让神经网络把这张图反向翻译回真实的光谱和偏振属性。实验结果表明,该系统可在1100–1600 nm范围内对窄带谱线实现平均绝对误差0.004的重建,对宽带光谱实现平均绝对误差0.031和7.39%的平均相对误差,并完成6 nm分辨率的双峰光谱分辨;在全Stokes参数重建中,其平均绝对误差为0.016。进一步的芯片集成原型在450–650 nm范围内仍可实现4 nm分辨率、窄带重建平均绝对误差0.007、宽带重建平均绝对误差0.027以及偏振重建平均绝对误差0.039,并完成了不同波长-偏振组合目标的成像验证。该成果以 Integrated spectropolarimeter by metasurface-based diffractive optical networks 为题,于2026年04月09日发表于《Optica》。
重要图片:
图1 基于超表面衍射光学网络的集成光谱偏振计。
(a)衍射光学网络示意图。具有任意光谱组成和偏振状态的入射光由光学编码器编码,经双层级联超表面处理后,在CMOS传感器上形成空间强度分布,再由协同设计的电子解码器重建光谱和Stokes参数。超表面衍射光学网络可直接集成到图像传感器芯片上。(b)衍射光学网络训练流程。通过反向传播最小化预测值与真实值之间的损失函数,对超表面的物理参数和人工神经网络权重进行联合优化。
图2 基于超表面的编码器设计。
(a)Si纳米砖阵列示意图。(b)和(c)示例纳米砖的透射率和相位移分布图。(d)用于确认纳米砖分布均匀性的大面积扫描电子显微镜图像,以及单个纳米砖的高分辨率图像。比例尺分别为2 μm和500 nm。(e)不同波长和入射偏振态下的实验测量强度分布,其中上排对应不同波长下的LCP入射,下排对应1300 nm波长下的不同偏振态。比例尺分别为100 μm和20 μm。
图3 光谱偏振计的实验验证。
(a)实验装置示意图。样品由波长和偏振调制光照明,空间强度图样由相机记录。参考测量通过商业光谱分析仪和偏振仪获得。(b)离散窄带光源的光谱重建性能,显示出精确的波长分辨能力(平均绝对误差=0.004)。(c)宽带光谱重建结果,重建谱与参考谱高度一致,证明其适用于多色光源(平均绝对误差=0.031,平均相对误差=7.39%)。(d)双峰光谱分辨测试,表明系统能够区分间隔为6 nm的谱线特征(分辨率受实验设备限制)。(e)使用均匀分布于庞加莱球上的偏振态评估全Stokes偏振重建性能,Stokes参数平均绝对误差为0.016。(f)通过神经网络重建具有不同波长-偏振组合编码的三个数字,得到高保真图像且背景噪声极低。比例尺为100 μm。HWP表示半波片;QWP表示四分之一波片;NPBS表示非偏振分束器;MS表示超表面。
图4 芯片集成式基于超表面衍射光学网络的传感器原型。
(a)芯片集成传感器示意图。光学透明胶用于将超表面编码器键合到CMOS像素阵列上。(b)带光纤耦合光源和3D打印支架的实验装置,用于简化光耦合。(c)集成传感器原型照片,显示其紧凑的小型化结构。比例尺为1 cm。(d)–(g)集成传感器的性能表征,展示其在(d)窄带光源(平均绝对误差=0.007)和(e)宽带光源(平均绝对误差=0.027,平均相对误差=6.98%)下的重建保真度,以及(f)4 nm光谱分辨率(受实验设备限制)和(g)偏振重建平均绝对误差=0.039。该集成传感器在实现单次曝光、紧凑型光谱偏振测量的同时,仍保持了有竞争力的性能。
参考文献
Jumin Qiu, Tingting Liu, Chenxuan Xiang, Tianbao Yu, Qiegen Liu, and Shuyuan Xiao, "Integrated spectropolarimeter by metasurface-based diffractive optical networks," Optica 13, 737-744 (2026)
DOI:https://doi.org/10.1364/OPTICA.583686
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